奧林巴斯超聲波相控陣楔塊SNW1-0L-IHC

奧林巴斯無損檢測(cè)解決方案提供全新的檢測(cè)技術(shù)。我們由各類超聲探傷儀、測(cè)厚儀、探頭等產(chǎn)品組合而成的各種解決方案也包含您所需要的軟件，有助于滿足您全面的檢測(cè)要求。我們的產(chǎn)品可用于探測(cè)和表征一系列材料（例如金屬、塑料和陶瓷）中的缺陷，有助于您優(yōu)先考慮性能和安全。我們的無損檢測(cè)解決方案和設(shè)備用途廣泛，具有多種測(cè)量功能，可助力您進(jìn)行必要的檢測(cè)。我們還致力于研發(fā)出易于使用的軟件。如果您希望了解有關(guān)我們產(chǎn)品的更多信息，您可以觀看我們網(wǎng)站上的輔導(dǎo)視頻，聆聽專家對(duì)NDT設(shè)備的概括介紹。

奧林巴斯種類齊全的便攜式超聲探傷儀（UT）具有探測(cè)不連續(xù)性及其他缺陷的*能力。這些超聲探傷儀配備各種軟件、測(cè)量功能以及專用于特定應(yīng)用的選項(xiàng)，可以完成各種缺陷探測(cè)應(yīng)用。這些應(yīng)用包括定位和定量焊縫、鍛件、渦輪和其他結(jié)構(gòu)性部件中的隱藏裂紋、空隙、脫粘以及類似的不連續(xù)性缺陷。

奧林巴斯是世界的測(cè)厚儀生產(chǎn)企業(yè)，其所生產(chǎn)的測(cè)厚儀可以對(duì)幾乎任何材料進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量。這些測(cè)厚儀功能齊備，具有很高的測(cè)量性能。超聲測(cè)厚儀可以對(duì)大多數(shù)材料進(jìn)行測(cè)量，其中包括塑料、金屬、金屬復(fù)合材料、橡膠及內(nèi)部腐蝕的材料。

無損檢測(cè)（NDT）工業(yè)掃查器可用于各種工業(yè)應(yīng)用中，以提高檢測(cè)速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量和檢出率（POD）。奧林巴斯提供電動(dòng)和半自動(dòng)（手動(dòng)）型單軸或雙軸（XY）工業(yè)掃查器。奧林巴斯的焊縫檢測(cè)掃查器可以裝配多個(gè)探頭，從而可以完成多技術(shù)檢測(cè)，并提高檢出率（POD）。

奧林巴斯的腐蝕檢測(cè)掃查器可與HydroFORM掃查器、柔性相控陣探頭，或雙晶線性陣列探頭配套使用，對(duì)管道或平坦的表面進(jìn)行檢測(cè)，而奧林巴斯的各種用于航空航天業(yè)的掃查器則可以被穩(wěn)固地放置在復(fù)合材料表面上進(jìn)行檢測(cè)。為了完善用戶的檢測(cè)解決方案，奧林巴斯還提供多種相控陣探頭和楔塊型號(hào)，以及各種配件，如：脈沖發(fā)生器接收器的前置放大器、適配器和水泵等。

奧林巴斯提供各種掃查器，以滿足用戶在制造或維護(hù)過程中對(duì)焊縫檢測(cè)的需要。我們可為從小徑管道到平板的各種工件的檢測(cè)提供解決方案，某些掃查器可以安裝多個(gè)探頭，以覆蓋焊縫的整個(gè)體積。無論用戶選擇的是電動(dòng)型還是手動(dòng)型掃查器，都會(huì)感受到這些掃查器的普適性、可靠性及可重復(fù)性。

奧林巴斯超聲波相控陣楔塊SA31-N55S-IHC

用于曲面陣列探頭的水浸角形楔塊具有特殊的半徑和角度，其半徑可調(diào)以適用于各種被測(cè)工件。這些楔塊的設(shè)計(jì)目的是用于手動(dòng)掃查，并配合袖珍輪式編碼器一起使用。

奧林巴斯超聲波相控陣楔塊SNW1-0L-IHC

奧林巴斯 OLYMPUS OmniScan SX

相控陣超聲波探傷儀

型號(hào)：OmniScan sx

更小巧、更輕便的OmniScan儀器

產(chǎn)品特征

OmniScan SX 相控陣超聲波探傷儀

Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了研制的OmniScan SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗(yàn)，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對(duì)檢測(cè)要求較低的應(yīng)用，這款儀器操作極為方便。OmniScan SX有兩種型號(hào)：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與僅具有UT通道的SX UT一 樣，也配備了一個(gè)常規(guī)UT通道，可以進(jìn)行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測(cè)。與OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體積小50 %，具有OmniScan產(chǎn)品的更為輕巧便攜的性能。

設(shè)置

可以在NDT SetupBuilder中為檢測(cè)進(jìn)行設(shè)置，然后再通過SD卡或USB鑰匙，將設(shè)置直接導(dǎo)入到OmniScan SX 儀器。進(jìn)行采集之前，只需在儀器中進(jìn)行幾項(xiàng)基本操作， 如：設(shè)置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個(gè)特性，用戶也可以在儀器中非常方便地創(chuàng)建設(shè)置：

自動(dòng)探頭識(shí)別

單步驟、預(yù)先配置應(yīng)用的向?qū)?/p>

焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬

校準(zhǔn)

為完成一項(xiàng)符合規(guī)范的檢測(cè)，儀器中的校準(zhǔn)向?qū)Э梢员ＷC每組中的每個(gè)聚焦法則都直接等同于一個(gè)單通道常規(guī)探傷儀。用戶在完成所要求的校準(zhǔn)過程中，會(huì)得到向?qū)У姆植街笇?dǎo)。所校準(zhǔn)的項(xiàng)目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器。現(xiàn)在，儀器可以自動(dòng)完成TOFD PCS校準(zhǔn)與直通波矯直的操作。

采集

在進(jìn)行手動(dòng)、單線或光柵編碼掃查時(shí)，OmniScan SX可以方便地對(duì)檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行配置。采集數(shù)據(jù)可以用戶選擇的視圖形式實(shí)時(shí)顯示在屏幕上，用戶還可以將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于具 有熱插拔功能的SD卡或USB 2.0設(shè)備中。

智能布局

全屏模式，可更好地顯示缺陷

可以使用不同的閘門組合對(duì)同步和測(cè)量進(jìn)行處理

數(shù)據(jù)分析和報(bào)告制作

數(shù)據(jù)光標(biāo)、參考光標(biāo)與測(cè)量光標(biāo)用于缺陷的定量。

擴(kuò)展的數(shù)據(jù)庫、預(yù)先定義的三角學(xué)參數(shù)列表、缺陷相對(duì)于軸的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、體積位置信息、基于規(guī)范的合格標(biāo)準(zhǔn)、腐蝕成像的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)等等。

在進(jìn)行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進(jìn)行交互式分析和自動(dòng)更新。

優(yōu)化的預(yù)置布局可對(duì)缺陷的長度、深度和高度進(jìn)行快速方便的定量。無論您想在計(jì)算機(jī)中完成數(shù)據(jù)分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數(shù)據(jù)后繼續(xù)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan